H500-Портативный XRF Минеральный/Почвенный анализатор
Справочная информация и введение
Передовые спектрометры ESI ED-XRF обеспечивают на месте количественный анализ добывающей продукции, тем самым сокращая время получения результатов от дней до секунд, по сравнению с трудоемким лабораторным анализом. Материалы, добываемые в результате добычи полезных ископаемых, минералов или других геологических материалов, которые происходят из земли, состоят из всех видов базовых металлов - драгоценных металлов, железа, урана, угля, алмазов, известняка, сланца, каменной соли и калия - все из которых могут быть эффективно проанализированы выдающимися анализаторами ESI ED-XRF.
Многочисленные правила ограничивают количество токсичных соединений и металлов, которые могут быть выпущены в атмосферу. ESI предоставляет инновационные решения, которые помогут клиентам контролировать выбросы газов и безопасную обработку почв и отложений в их производстве. От подготовки образцов до всестороннего анализа, мы помогаем клиентам генерировать точные данные для принятия разумных экологических решений.
Спектрометры ESI ED-XRF образуют конечную методику и системы для рутинных качественных и количественных аналитических определений добывающих и минеральных материалов, с очень низкими эксплуатационными расходами и отсутствием необходимости в трудоемкой подготовке образцов.
Анализаторы ESI обеспечивают отличную производительность в сочетании с выдающимся низким уровнем обнаружения, что делает их превосходным выбором для горнодобывающей и геологоразведочной промышленности. Современные современные детекторы позволяют легко и доступно анализ световых элементов и оксидов на производственных линиях и в полевых условиях.
Некоторые примеры приложений решений на основе ED-XRF включают в себя:
1.Cement - это смесь нескольких минералов. Очень важно контролировать элементарный состав и свойства, такие как прочность, настройка, время и цвет. ED-XRF используется для анализа сырых компонентов, сыроедитель, клинкер, и конечный продукт цемента (Na, Mg, Al, Si, S, K, Ca, и Fe в цементе, клинкере, и сырцовом еде).
2.Известняк является основным компонентом цемента, и преобразуется в известь. Это один из наиболее распространенных минералов и ED-XRF является популярным методом, используемым для его анализа (Na, Mg, Al, Si, K, Ca, и Fe в лайме, известняке и доломите).
3. Песок также является компонентом цемента, но в основном используется для производства стекла. Особенно ценным для стекольного производства является низкое железо, которое образует важное подзагнее (Na, Mg, Al, Si, K, Ca и Fe in Sand and Glass).
4.Clays использованы в разнообразие керамических товарах, артефактах, кирпичах и другой готовой продукции. Мониторинг содержимого Ti и Fe имеет важное значение для контроля цвета. Низкой стоимости ED-XRF устройства могут выполнять этот анализ, в то время как высококачественные ED-XRF инструменты могут измерять все другие основные элементы (Mg, Al, Si, Ca, Ti, Fe в Каолине и других глин).
5.Bauxite является минералом с высоким содержанием алюминия и образует наиболее важный источник алюминия для производства металла (Al, Si, Ti, и Fe в боксите).
6.Фосфатная порода является основным источником фосфора, используемого в производстве удобрений и фосфорной кислоты. ED-XRF обычно используется для измерения горных пород, растворов фосфорной кислоты и удобрений (P, S, Ca, Fe в фосфатных породах и удобрениях).
7.Геологическое обследование почвы:
Просто нажать на курок и микроэлементы находятся под контролем.
8.Анализ полевых разведки
Он может быстро и точно отслеживать аномалии минерализации и разграничить границы руды. Для руды с относительно низкими требованиями промышленного класса, легко получить заключение о сокращении класса. И может сканировать основные образцы для сканирования.
9.Анализ проекта шахты
Портативный H500 может кружить ключевые вены в течение короткого периода времени для ключевых добычи. Быстро отдельные сорта руды, суб-классы и отходы породы. Общее повышение эффективности добычи, значительное снижение затрат на тестирование и транспортировку
Функции:
> Нет предела формы или размера для образцов; которые могут быть в твердой, жидкой или порошковой форме
>Меакурации: от 10 до 300 секунд в зависимости от переменных
>Solid X-Ray Источник: 4 Вт мини Rh / Ag-Target рентгеновского трубки
>Мультипл Коллиматор, Несколько фильтров с автоматической регулировкой
> Широкий диапазон элементов обнаружения: магний (Mg) через уран (U)
> картографическая функция GPS; может автоматически сохранить местоположение измерения
> технологии передачи данных загружаются на настольный компьютер для долгосрочного хранения и генерации отчетов
>Легкий ручной инструмент; одна из самых легких систем, доступных
>батерный срок службы более пяти (5) часов; включает в себя зарядное устройство две батареи включены с системой без дополнительной платы
>высокое разрешение образец камеры для быстрого и легкого выравнивания образца; застраховать точное местоположение чтения
Технические характеристики
Аналитический метод |
Энергетическая диспергативная рентгеновская флуоресценция |
КПК с сенсорным экраном |
Процессор: 1G, Системная память: 1G, стандартные данные массового хранения 4G, расширенная сохраненная максимальная поддержка до 32G, Большой LCD сенсорный экран, разрешение 1820x720 |
Интеллектуальный анализ |
Автоматический режим выбора теста на основе матрицы образца |
Источник возбуждения |
50KV/200-А - Ag / Rh конец окна интегрированы миниатюрные рентгеновские трубки и высоковольтного питания |
Коллиматор и фильтр |
Множественный коллиматор и фильтры с функциями автоматического переключения |
Детектор |
Детектор силиконового дрейфа (SDD) |
Разрешение детектора |
До 125eV |
Состояния выборки |
Твердые тела, жидкости, порошки |
Элементарный диапазон |
Атомные числа между 12 (Mg) и 92 (U) |
Предел обнаружения |
1 - 500ppm, в зависимости от элемента и образца матрицы |
Время анализа |
3-60 секунд |
Одновременный анализ |
Отображает до 40 элементов одновременно |
Диапазон отображения |
промилле - 99,99% |
Система просмотра образцов |
Интегрированная камера высокого разрешения |
Связь |
USB, GPS, Wi-Fi или Bluetooth |
Безопасности |
Автоматическое отключение рентгеновской трубки, рамы прибора Pb-подкладка, уровни радиации в рамках международных стандартов безопасности |
Питания |
Аккумулятор Li, стандартный 9000mAh, обеспечивает до 12 часов работы на одной зарядке; 110/220V универсальный адаптер для зарядки |
Температура |
-20oC до 50oC |
Влажности |
≤90% |
Вес |
1,75 кг |
Тест производительность образцов минералов и почвы
Результаты испытаний повторяемости образцов почвы (Unit:%)
Имя |
V |
Cr |
Mn |
Ni |
Cu |
Zn |
Образец10'--1 |
0.0053 |
0.0066 |
0.0593 |
0.0047 |
0.0019 |
0.0053 |
Образец10'--2 |
0.0056 |
0.0064 |
0.0605 |
0.0046 |
0.0019 |
0.0053 |
Образец10'--3 |
0.0046 |
0.0071 |
0.0595 |
0.0052 |
0.002 |
0.0054 |
Образец10'--4 |
0.0052 |
0.0059 |
0.0607 |
0.0045 |
0.0016 |
0.0052 |
Образец10'--5 |
0.0055 |
0.0065 |
0.0578 |
0.0056 |
0.0015 |
0.0053 |
Образец10'--6 |
0.005 |
0.0057 |
0.0597 |
0.0048 |
0.0021 |
0.0054 |
Образец10'--7 |
0.0054 |
0.0071 |
0.0583 |
0.0055 |
0.0016 |
0.0054 |
Образец10'--8 |
0.0051 |
0.0068 |
0.0602 |
0.0055 |
0.0018 |
0.0055 |
Образец10'--9 |
0.0051 |
0.0065 |
0.0597 |
0.0043 |
0.0019 |
0.0053 |
Образец10--10 |
0.0054 |
0.0069 |
0.0604 |
0.0044 |
0.0016 |
0.0057 |
Образец10'--11 |
0.0049 |
0.0068 |
0.0579 |
0.0047 |
0.0018 |
0.0054 |
Средняя |
0.0052 |
0.0066 |
0.0595 |
0.0049 |
0.0018 |
0.0054 |
Стандартное отклонение |
0.0003 |
0.0004 |
0.0010 |
0.0005 |
0.0002 |
0.0001 |
Rsd |
5.61% |
6.84% |
1.74% |
9.70% |
10.73% |
2.47% |
Имя |
Как |
Pb |
Sn |
Sb |
Cd |
|
Образец10'--1 |
0.0014 |
0.0019 |
0.0032 |
0.0022 |
0.0006 |
|
Образец10'--2 |
0.0014 |
0.0017 |
0.0031 |
0.0022 |
0.0012 |
|
Образец10'--3 |
0.0014 |
0.0018 |
0.0027 |
0.0033 |
0.0007 |
|
Образец10'--4 |
0.0013 |
0.0018 |
0.0026 |
0.0025 |
0.0012 |
|
Образец10'--5 |
0.0013 |
0.0017 |
0.0024 |
0.0022 |
0.0012 |
|
Образец10'--6 |
0.0014 |
0.002 |
0.0025 |
0.0028 |
0.001 |
|
Образец10'--7 |
0.0014 |
0.0018 |
0.0026 |
0.0023 |
0.0006 |
|
Образец10'--8 |
0.0014 |
0.0019 |
0.0028 |
0.0021 |
0.0012 |
|
Образец10'--9 |
0.0013 |
0.0017 |
0.0025 |
0.0022 |
0.0013 |
|
Образец10--10 |
0.0014 |
0.0016 |
0.0032 |
0.0032 |
0.001 |
|
Образец10'--11 |
0.0014 |
0.0018 |
0.0031 |
0.0018 |
0.0005 |
|
Средняя |
0.0014 |
0.0018 |
0.0028 |
0.0024 |
0.0010 |
|
Стандартное отклонение |
0.0000 |
0.0001 |
0.0003 |
0.0005 |
0.0003 |
|
Средняя |
3.40% |
6.34% |
10.92% |
19.36% |
31.21% |
Результаты измерения точности прибора H500
Элемент |
GBW07424 |
GBW07426 |
||||
Значение теста |
Сертифицированное значение |
Ошибка |
Значение теста |
Сертифицированное значение |
Ошибка |
|
Cr |
62 |
58 |
6.90% |
54.8 |
59 |
-7.12% |
V |
70 |
74 |
-5.41% |
87 |
86 |
1.16% |
Mn |
694 |
681 |
1.91% |
782 |
774 |
1.03% |
Ni |
23.5 |
26 |
-9.62% |
30 |
32 |
-6.25% |
Cu |
17.6 |
19 |
-7.37% |
26.3 |
29 |
-9.31% |
Zn |
56.4 |
60 |
-6.00% |
75 |
78 |
-3.85% |
Как |
8.13 |
8.9 |
-8.65% |
11.2 |
12.2 |
-8.20% |
Cd |
0.4 |
0.105 |
280.95% |
0.3 |
0.15 |
100.00% |
Sb |
1.64 |
0.94 |
74.47% |
1.01 |
1.17 |
-13.68% |
Pb |
20.3 |
22 |
-7.73% |
20 |
19 |
5.26% |
Sn |
2.48 |
3.4 |
-27.06% |
3.6 |
2.8 |
28.57% |
Элемент |
GBW07428 |
GBW07429 |
||||
Значение теста |
Сертифицированное значение |
Ошибка |
Значение теста |
Сертифицированное значение |
Ошибка |
|
Cr |
74.2 |
70 |
6.00% |
85.2 |
87 |
-2.07% |
V |
83.2 |
86 |
-3.26% |
124.3 |
119 |
4.45% |
Mn |
682 |
688 |
-0.87% |
952.3 |
963 |
-1.11% |
Ni |
30.5 |
33 |
-7.58% |
43.5 |
41 |
6.10% |
Cu |
28.4 |
27.4 |
3.65% |
35.4 |
37 |
-4.32% |
Zn |
94 |
96 |
-2.08% |
92.8 |
94 |
-1.28% |
Как |
5.8 |
6.5 |
-10.77% |
22.8 |
21.7 |
5.07% |
Cd |
0.43 |
0.2 |
115.00% |
0.4 |
0.21 |
90.48% |
Sb |
1.5 |
0.81 |
85.19% |
2.5 |
1.9 |
31.58% |
Pb |
29.7 |
31 |
-4.19% |
36.4 |
38 |
-4.21% |
Sn |
2.4 |
3.1 |
-22.58% |
3.6 |
4.5 |
-20.00% |
Что такое XRF?
XRF означает рентгеновское флуоресценцию. В ходе анализа материалы возбуждаются с помощью высокой энергии луча излучения короткой длины волны рентгеновских лучей и становятся ионизированными. Внутренние электроны выбрасываются с орбиты более низкой энергии (обычно орбиты K и L), что делает атомы в образце нестабильными до тех пор, пока электронные отверстия не будут заполнены электронами с более высокой энергии внешней орбиты. Когда электрон перемещается с высокой энергетической орбиты на более низкую энергетическую орбиту, энергия высвобождается в виде рентгеновских лучей, характерных для типа присутствуют атомы. Непрерывная ионизация образца и поглощение энергии из луча инцидента позволяет провести анализ сложного рентгеновского спектра, испускаемого возбужденным материалом. Спектрометр энергетического диспергатора X-Ray (EDX) используется для измерения энергоемкости различных длин волн испускаемого рентгеновского спектра по мере его обнаружения. Пиковые интенсивности, измеряемые на разных длинах волн, характерны для каждого элемента и пропорциональны обилию элементов, присутствующих в образце. Точное количественное изобилие каждого элемента определяется путем сопоставления этих данных с минеральными и горными стандартами известного состава.
О ESI
ESI предлагает аналитические решения на основе XRF для решения задач в области контроля промышленных процессов, а также в производстве первичного и вторичного сырья. Пользователь, приложение и добавленная стоимость, генерируемая им, находятся в центре внимания всех наших концепций и продуктов. При реализации проектов мы ориентируемся на удобство использования, производительность, пригодность для условий окружающей среды и качества.
Понимание приложения является основой для всех наших шагов, от проецирования до обслуживания.
Мы поддерживаем наших клиентов в поиске новых потенциалов в добавленной стоимости. В этом мы работаем в четко структурированных проектах. Начиная с анализа задач, мы разрабатываем решения и довехаем их до практической реализации. После оптимизации параметров приложения сервис, ориентированный на клиента, завершает наш пакет.
Знания, опыт и преданность наших сотрудников являются нашим самым важным ресурсом.
Тесная связь с научными и прикладными исследованиями в области лазерной спектроскопии позволяет найти инновационные решения пока нерешенных проблем.
http://ru.esi-xrf.com/